MW-GaN_Boost_Mode

半橋氮化鎵 (GaN)電源轉換升壓Boost實驗模組

 

特色:

  • 整合GaN-ControlBoard半橋氮化鎵(GaN)控制卡與GaN-MainBoard控制基座,應用在同步 升壓Boost Mode設計

  • 結合半橋氮化鎵(GaN)模組 ,切換頻率50kHz to 150kHz

  • 訊號控制方式:

    • 提供2個PWM輸入控制訊號(同步控制模式)

  • 訊號量測方式:

    • 輸入端電壓量測輸出(0~450V轉成0~3.3V準位)

    • 輸出端電壓量測輸出((0~450V轉成0~3.3V準位)

    • 輸出電流量測輸出(0~8.25A轉成0~3.3V準位)

  • 正電源輸入電壓,建議基本操作在400V以下的直流電壓輸入

  • 輸出電壓透過PWM控制方式升壓設計與調整,可支援最大6A電流輸出能力,建議操作在4A以下電流。(請外掛至少200LFM minimum airflow風扇降溫,並隨時監測GaN溫度)

  • 需要額外供應12V電源輸入,電路產生5V電源輸出,可提供1A電流

  • 1組電源指示燈

  • 操作在升壓Boost模式時,請注意輸出端要加上負載裝置。

  • 方塊圖

 

 

GaN-ControlBoard半橋氮化鎵(GaN)控制卡:

  • GaN-ControlBoard半橋氮化鎵(GaN)控制卡採用兩顆GAN039-650NTB GaN FETs來進行電路Half-bridge設計。

  • 尺寸大小:50mmX50MM(外面外加散熱片)

  • GAN039-650NTB為Nexperia半導體所設計最新氮化鎵晶片,其特性包含:

    •  650 V, 33 mΩ Gallium Nitride (GaN) FET

    • Simplified driver design as standard level MOSFET gate drivers can be used:

      • 0 V to 12V drive voltage

      • Gate threshold voltage VGSth of 4V

      • Robust gate oxide with ±20V VGS rating

      •  High gate threshold voltage of 4 V for gate bounce immunity

 

 

支援DSP控制卡:

工具與開發環境 型號 說明
TMS320F28377D控制卡(176腳位) 使用雙核心TMS320F28377D(176腳位)的標準開發套件,浮點運算200MHz速度

TMS320F28379D控制卡(176腳位) 使用雙核心TMS320F28379D(176腳位)的標準開發套件,浮點運算200MHz速度 。

TMS320F28388D控制卡(176腳位) 使用多核心TMS320F28388D(176腳位)的標準開發套件,浮點運算200MHz速度 。

XDS1xx ISO V2(隔離式)模擬器 第二代XDS1xx USB介面模擬器,添加隔離式介面,支援CCS4.x、5.x、CCS6.x (提供比上一代更高兩倍的傳輸速度)New!

 

XDS11x ISO(隔離式)模擬器

最新一代XDS11x USB介面模擬器 ,添加隔離式介面,可支援CCS6.x以上版本。(提供比上一代更高五倍的傳輸速度)New!